|
ゴトウ ヒロキ
Hiroki Goto
後藤 博樹 所属 追手門学院大学 理工学部 電気電子工学科 職種 教授 |
|
| 言語種別 | 英語 |
| 発行・発表の年月 | 2003/04 |
| 形態種別 | 外国学術誌(その他) |
| 査読 | 査読あり |
| 標題 | Electromagnetic enhancement effect in scanning tunneling microscope light emission from GaAs |
| 執筆形態 | 共著・編著(代表編著を除く) |
| 掲載誌名 | JOURNAL OF APPLIED PHYSICS |
| 巻・号・頁 | 93(7),pp.3784-3788 |
| 著者・共著者 | Y Uehara,H Gotoh,R Arafune,S Ushioda |
| DOI | 10.1063/1.1554473 |
| ISSN | 0021-8979 |